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Degradation dynamics for deep scaled p-MOSFET's during hot-carrier stress
2002-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Pirovano, Agostino; Lacaita, ANDREA LEONARDO
How far will Silicon nanocrystals push the scaling limits of NVMs technologies?
2003-01-01 B., De Salvo; C., Gerardi; S., Lombardo; T., Baron; L., Perniola; D., Mariolle; P., Mur; A., Toffoli; M., Gely; M. N., Semeria; S., Deleonibus; G., Ammendola; V., Ancarani; M., Melanotte; R., Bez; L., Baldi; D., Corso; I., Crupi; R. A., Puglisi; G., Nicotra; E., Rimini; F., Mazen; G., Ghibaudo; G., Pananakakis; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; Y. M., Wan; K., van der Jeugd
Program/erase dynamics and channel conduction in nanocrystal memories
2003-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi; L., Perniola; B., De Salvo; S., Lombardo
Study of data retention for nanocrystal Flash memories
2003-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; Previtali, Cristian; C., Gerardi
Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming
2004-01-01 G., Puzzilli; D., Caputo; F., Irrera; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi
A new channel percolation model for VT shift in discrete-trap memories
2004-01-01 Ielmini, Daniele; MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi
Study of nanocrystal memory reliability by CAST structures
2004-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi
Statistical analysis of nanocrystal memory reliability
2004-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi; S., Lombardo
Program and SILC constraints on NC memories scaling: a Monte Carlo approach
2005-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; F., Morelli; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Edge and percolation effects on VT window in nanocrystal memories
2005-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Modeling of tunneling P/E for nanocrystal memories
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; Sotgiu, Riccardo
Optimization of threshold voltage window under tunneling program/erase in nanocrystal memories
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Temperature dependence of transient and steady-state gate currents in HfO2 capacitors
2006-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; A., Bianchini; Lacaita, ANDREA LEONARDO; S., Spiga; G., Scarel; C:, Wiemer; M., Fanciulli
Transient currents in HfO2 and their impact on circuit and memory applications
2006-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; A., Bianchini; Lacaita, ANDREA LEONARDO; S., Spiga; M., Fanciulli
Defects spectroscopy in SiO2 by statistical random telegraph noise analysis
2006-01-01 Gusmeroli, Riccardo; MONZIO COMPAGNONI, Christian; A., Riva; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; M., Bonanomi; A., Visconti
A Monte Carlo investigation of nanocrystal memory reliability
2006-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Threshold-voltage statistics and conduction regimes in nanocrystal memories
2006-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele
Characterization of transient currents in HfO2 capacitors in the short timescale
2006-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; A., Bianchini; Lacaita, ANDREA LEONARDO; S., Spiga; M., Fanciulli
Extraction of the floating-gate capacitive couplings for drain turn-on estimation in discrete-trap memories
2006-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
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