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Analysis of phase distribution in phase-change nonvolatile memories
2004-01-01 Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO; A., Pirovano; F., Pellizzer; R., Bez
Study of nanocrystal memory reliability by CAST structures
2004-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi
Electronic switching effect and phase-change transition in chalcogenide materials
2004-01-01 Redaelli, Andrea; A., Pirovano; F., Pellizzer; Lacaita, ANDREA LEONARDO; Ielmini, Daniele; R., Bez
A comparative study of characterization techniques for oxide reliability in Flash memories
2004-01-01 Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; M. J., VAN DUUREN
A new channel percolation model for VT shift in discrete-trap memories
2004-01-01 Ielmini, Daniele; MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi
Statistical analysis of nanocrystal memory reliability
2004-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; C., Gerardi; S., Lombardo
Electrothermal and phase-change dynamics in chalcogenide-based memories.
2004-01-01 Lacaita, ANDREA LEONARDO; A., Redaelli; Ielmini, Daniele; F., Pellizzer; A., Pirovano; A. BENVENUTI, R. BEZ
Programming and disturb characteristics in nonvolatile phase-change memories
2004-01-01 Lacaita, ANDREA LEONARDO; A., Redaelli; Ielmini, Daniele; M., Tosi; F., Pellizzer; A., Pirovano; R., Bez
Modeling of tunneling P/E for nanocrystal memories
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Optimization of threshold voltage window under tunneling program/erase in nanocrystal memories
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Switching and programming dynamics in phase-change memory cells
2005-01-01 Ielmini, Daniele; D., Mantegazza; Lacaita, ANDREA LEONARDO; A., Pirovano; F., Pellizzer
Parasitic reset in the programming transiet of PCMs
2005-01-01 Ielmini, Daniele; Mantegazza, Davide; Lacaita, ANDREA LEONARDO; A., Pirovano; F., Pellizzer
A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2
2005-01-01 Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; L., Chiavarone; A., Visconti
Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications
2005-01-01 MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO; Sotgiu, Riccardo
Recent developments on flash memory reliability
2005-01-01 Ielmini, Daniele; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; Lacaita, ANDREA LEONARDO
µTrench phase-change memory cell engineering and optimization.
2005-01-01 A., Pirovano; F., Pellizzer; A., Redaelli; I., Tortorelli; E., Varesi; F., Ottogalli; M., Tosi; P., Besana; R., Cecchini; R., Piva; M., Magistretti; M., Scaravaggi; G., Mazzone; P., Petruzza; F., Bedeschi; T., Marangon; A., Modelli; Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Edge and percolation effects on VT window in nanocrystal memories
2005-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Impact of crystallization statistics on data retention for phase change memories.
2005-01-01 A., Redaelli; Ielmini, Daniele; Lacaita, ANDREA LEONARDO; F., Pellizzer; A., Pirovano; R., Bez
Program and SILC constraints on NC memories scaling: a Monte Carlo approach
2005-01-01 Gusmeroli, Riccardo; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian; Ielmini, Daniele; F., Morelli; Lacaita, ANDREA LEONARDO
Effects of threshold switching and parasitic capacitance in the programming transiet of chalcogenide phase-change memories
2005-01-01 Ielmini, Daniele; D., Mantegazza; Lacaita, ANDREA LEONARDO; A. PIROVANO, F. PELLIZZER
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