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Two-Dimensional Sequential Array Architectures: Design for Testability and Reconfiguration Issues
1993-01-01 Bolchini, Cristiana; F., Fummi; Sciuto, Donatella
FSM fault models impact on test performances
1993-01-01 Bolchini, Cristiana; F., Fummi
A design methodology for the correct specification of VLSI systems
1993-01-01 Bolchini, Cristiana; M., Bombana; P., Cavalloro; C., Costi; F., Fummi; G., Zaza
CASTOR: an expert advisor for testability enhancement of VLSI systems
1994-01-01 G., Bezzi; Bolchini, Cristiana; I., Bolzoni; M., Bombana; G., Buonanno; S., Cantù; P., Cavalloro; Sciuto, Donatella; G., Zaza
CMOS Reliability Improvements Through a New Fault Tolerant Technique
1994-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
A CMOS fault tolerant architecture for switch-level faults
1994-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
CASTOR: a computer aided system testability optimizer
1994-01-01 Bolchini, Cristiana
Design for testability issues in the implementation of sequential array architectures
1994-01-01 G., Bezzi; Bolchini, Cristiana; I., Bolzoni; S., Cantù; F., Fummi; Sciuto, Donatella
Two-Dimensional Sequential Array Architectures: Design for Testability Approaches
1994-01-01 Bolchini, Cristiana; Fummi, F.; Sciuto, Donatella
A state encoding for self-checking finite state machines
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; R., Montandon; Salice, Fabio; Sciuto, Donatella
A new switching-level approach to multiple-output functions synthesis
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
CMOS Fault Tolerant Architectures for Switch level faults
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
Towards WSI testable devices: an improved scan insertion technique
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Ferrandi, Fabrizio; Sciuto, Donatella; M., Bombana; P., Cavalloro; G., Zaza
Innovative design of CMOS fault tolerant structures
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
A Wafer Level Testability Approach Based on an Improved Scan Insertion Technique
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; M., Bombana; G., Buonanno; P., Cavalloro; Ferrandi, Fabrizio; Sciuto, Donatella
A BDD based algorithm for detecting difficult faults
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; F., Fummi; R., Gemelli; Salice, Fabio
Self-checking FSMs based on a constant distance state encoding
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; R., Montandon; Salice, Fabio; Sciuto, Donatella
An output/state encoding for self-checking finite state machine
1995-01-01 Bolchini, Cristiana; Sciuto, Donatella
Static redundancy techniques for CMOS gates
1996-01-01 Bolchini, Cristiana; G., Buonanno; Sciuto, Donatella; R., Stefanelli
Redundant faults in TSC networks: definition and removal
1996-01-01 Bolchini, Cristiana; Salice, Fabio; Sciuto, Donatella
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