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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Peer learning in higher education: An effective active methodology to mitigate the university students’ dropout rate
2022-01-01 Bozzi, Matteo; Mazzola, Roberto; Zani, Maurizio
Peer learning in higher education: an effective response to the university students’ dropout problem
2023-01-01 Bozzi, Matteo; Mazzola, ROBERTO LUCA; Zani, Maurizio
Perspectives of ultrafast hyperspectral imaging in Scanning Electron Microscopy
2023-01-01 Tagliaferri, Alberto; KOSARI MEHR, Abbas; Zaghloul, Mohamed; Cao, Wenzheng; Chen, Hao; Irde, Gabriele; Sala, Vittorio; Cerullo, Giulio; Isella, Giovanni; Lanzani, Guglielmo; Zani, Maurizio; Khursheed, Anjam; Pietralunga, Silvia
Photon assisted ultrafast scanning electron microscopy
2017-01-01 Pietralunga, SILVIA MARIA; Zani, Maurizio; Sala, Vittorio; Irde, Gabriele; Manzoni, Cristian; Cerullo, GIULIO NICOLA; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
Probing the photophysics of lead-halide hybrid perovskite junctions under very intense optical irradiance
2020-01-01 Pietralunga, Silvia M.; Irde, Gabriele; Barker, Alex J.; Ball, James M.; Sala, Vittorio; Zani, Maurizio; Petrozza, Annamaria; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
Real-time dynamical imaging of light induced photo-voltages in hybrid halide perovskites by Scanning Electron Microscopy
2018-01-01 Irde, Gabriele; Pietralunga, SILVIA MARIA; Sala, Vittorio; Zani, Maurizio; James, Ball; Barker, Alex J.; Petrozza, Annamaria; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
Scanning Auger Micro-spectroscopy for thickness evaluation of Graphene and Graphene Oxide layers
2015-01-01 Pietralunga, SILVIA MARIA; Dastjerdi, M. J. Vahid; Polloni, L.; Rizzi, LAURA GIORGIA; Sordan, Roman; Russo, Valeria; Vanacore, GIOVANNI MARIA; Zani, Maurizio; Tagliaferri, Alberto
Strain-induced band gap narrowing in Ge-rich SiGe nano-stripes.
2013-01-01 G., Vanacore; M., Chaigneau; N., Barrett; Bollani, Monica; F., Boioli; M., Salvalaglio; F., Montalenti; N., Manini; L., Caramella; Biagioni, Paolo; Chrastina, Daniel; Isella, Giovanni; O., Renault; Zani, Maurizio; Sordan, Roman; G., Onida; R., Ossikovski; H. J., Drouhin; Tagliaferri, Alberto
Time-resolved 2D mapping of surface photovoltages and charge dynamics in semiconductors by SEM
2023-01-01 Pietralunga, Silvia; Irde, Gabriele; Sala, Vittorio; Zani, Maurizio; Ball, James M.; Barker, Alex J.; Petrozza, Annamaria; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
UHV Ultrafast Scanning Electron Microscopy
2019-01-01 Pietralunga, Silvia M.; Sala, Vittorio; Zani, Maurizio; Irde, Gabriele; Cerullo, GIULIO NICOLA FELICE; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
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Tipologia
- 04 CONTRIBUTO IN ATTI DI CONVEGNO 37
- 04 CONTRIBUTO IN ATTI DI CONVEGNO... 37
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 12
- 2011 - 2019 25
Lingua
- eng 28
- ita 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 37