REFALDI, DAVID GIANLUIGI

	Nome completo
	
					REFALDI, DAVID GIANLUIGI
				
	Afferenza
	
					DIPARTIMENTO DI ELETTRONICA, INFORMAZIONE E BIOINGEGNERIA
				
	Pagina personale
	
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Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part I: Threshold Voltage

2024-01-01 Malavena, Gerardo; Amoroso, SALVATORE M.; Brown, ANDREW R.; Asenov, Plamen; Lin, XI-WEI; Moroz, Victor; Giulianini, Mattia; Refaldi, DAVID G.; MONZIO COMPAGNONI, Christian; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro

Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part II: Random Telegraph Noise

Evidence of Widely Distributed Time Constants in the Vertical Charge Loss of 3-D Charge-Trap NAND Flash Memories

2024-01-01 Refaldi, David G.; Malavena, Gerardo; Chiavarone, Luca; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian

First Evidence of SET-Like Behavior of 3-D NAND Flash Cells in the Deep-Cryogenic Regime

2024-01-01 Refaldi, David G.; Malavena, Gerardo; Giulianini, Mattia; Chiavarone, Luca; SOTTOCORNOLA SPINELLI, Alessandro; MONZIO COMPAGNONI, Christian

Titolo	Data di pubblicazione	Autori
Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part I: Threshold Voltage	1-gen-2024	GERARDO MALAVENASALVATORE M. AMOROSOANDREW R. BROWNPLAMEN ASENOVXI-WEI LINVICTOR MOROZMATTIA GIULIANINIDAVID G. REFALDICHRISTIAN MONZIO COMPAGNONIALESSANDRO SOTTOCORNOLA SPINELLI + -
Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part II: Random Telegraph Noise	1-gen-2024	GERARDO MALAVENASALVATORE M. AMOROSOANDREW R. BROWNPLAMEN ASENOVXI-WEI LINVICTOR MOROZMATTIA GIULIANINIDAVID G. REFALDICHRISTIAN MONZIO COMPAGNONIALESSANDRO SOTTOCORNOLA SPINELLI + -
Evidence of Widely Distributed Time Constants in the Vertical Charge Loss of 3-D Charge-Trap NAND Flash Memories	1-gen-2024	David G. RefaldiGerardo MalavenaLuca ChiavaroneAlessandro Sottocornola SpinelliChristian Monzio Compagnoni + -
First Evidence of SET-Like Behavior of 3-D NAND Flash Cells in the Deep-Cryogenic Regime	1-gen-2024	David G. RefaldiGerardo MalavenaMattia GiulianiniLuca ChiavaroneAlessandro Sottocornola SpinelliChristian Monzio Compagnoni + -

RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

REFALDI, DAVID GIANLUIGI

Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part I: Threshold Voltage

Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part II: Random Telegraph Noise

Evidence of Widely Distributed Time Constants in the Vertical Charge Loss of 3-D Charge-Trap NAND Flash Memories

First Evidence of SET-Like Behavior of 3-D NAND Flash Cells in the Deep-Cryogenic Regime