Statistical and scaling behavior of structural relaxation effects in phase change memory (PCM) devices

BONIARDI, MATTIA;IELMINI, DANIELE;LAVIZZARI, SIMONE;LACAITA, ANDREA LEONARDO;REDAELLI, ANDREA;PIROVANO, AGOSTINO
2009-01-01

2009
Proc. International Reliability Physics Symposium (IRPS)
sezele
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