Cycling-induced threshold-voltage instabilities in nanoscale NAND Flash memories: sensitivity to the array background pattern

PAOLUCCI, GIOVANNI MARIA;MONZIO COMPAGNONI, CHRISTIAN;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2014-01-01

2014
Proc. ESSDERC
9781479943760
sezele
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