Impact of control-gate and floating-gate design on the electron-injection spread of decananometer NAND Flash memories

MONZIO COMPAGNONI, CHRISTIAN;MICCOLI, CARMINE;LACAITA, ANDREA LEONARDO;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;
2010-01-01

2010
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
edl10_2.pdf

Accesso riservato

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 151.45 kB
Formato Adobe PDF
151.45 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/572651
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 13
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 12
social impact