BALDO, MATTEO

BALDO, MATTEO  

DIPARTIMENTO DI ELETTRONICA, INFORMAZIONE E BIOINGEGNERIA  

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Titolo Data di pubblicazione Autori File
BEOL Process Effects on ePCM Reliability 1-gen-2022 Redaelli, ASamanni, GBaldo, MIelmini, DGonella, R +
Modeling and Analysis of Virgin Ge-Rich GST Embedded Phase Change Memories 1-gen-2023 Baldo, M.Melnic, O.Redaelli, A.Ielmini, D. +
Modeling and Compensation of IR Drop in Crosspoint Accelerators of Neural Networks 1-gen-2022 Lepri N.Baldo M.Mannocci P.Glukhov A.Milo V.Ielmini D.