RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Statistical fluctuations in HfOx resistive-switching memory: Part I-Set/Reset variability

AMBROGIO, STEFANO;BALATTI, SIMONE;IELMINI, DANIELE
2014-01-01
2014
Noise fluctuations; random telegraph noise (RTN); resistive switching memory (RRAM); Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
01.1 Articolo in Rivista
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