Statistical fluctuations in HfOx resistive-switching memory: Part I-Set/Reset variability

AMBROGIO, STEFANO;BALATTI, SIMONE;IELMINI, DANIELE
2014-01-01

2014
Noise fluctuations; random telegraph noise (RTN); resistive switching memory (RRAM); Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
ted_VARIABILITY.pdf

accesso aperto

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 2.63 MB
Formato Adobe PDF
2.63 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/964753
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 183
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 168
social impact