RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Behavioral Testability and Test Pattern Generation of the Hopfield Network Model

ALIPPI, CESARE;SAMI, MARIAGIOVANNA;SCIUTO, DONATELLA
1994-01-01
1994
Proceedings of the 1994 IEEE International Conference on Neural Networks (ICNN 94) - 1st IEEE World Congress on Computational Intelligence
078031901X
04.1 Contributo in Atti di convegno
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