Size-Dependent Drift of Resistance Due to Surface Defect Relaxation in Conductive-Bridge Memory

CHOI, SEOL;BALATTI, SIMONE;NARDI, FEDERICO;IELMINI, DANIELE
2012-01-01

2012
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
edl12_cbram.pdf

Accesso riservato

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 263.5 kB
Formato Adobe PDF
263.5 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/663235
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 21
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 18
social impact