RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Optimal Test Set Selection for Fault Diagnosis Improvement

AMATI, LUCA;BOLCHINI, CRISTIANA;SALICE, FABIO
2011-01-01
2011
Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
04.1 Contributo in Atti di convegno
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