3D Monte Carlo simulation of the programming dynamics and their statistical variability in nanoscale charge-trap memories

AMOROSO, SALVATORE MARIA;MACONI, ALESSANDRO;MONZIO COMPAGNONI, CHRISTIAN;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO
2010

IEDM TECH.DIG.
9781424474196
sezele
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