Granular electron injection and random telegraph noise impact on the programming accuracy of NOR Flash memories

MONZIO COMPAGNONI, CHRISTIAN;GUSMEROLI, RICCARDO;GHIDOTTI, MICHELE;LACAITA, ANDREA LEONARDO;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;
2009

Reliability Physics Symposium, 2009 IEEE International
9781424428892
sezele
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