RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Reliability of NiO-based resistive switching memory (ReRAM) elements with pillar W bottom electrode

NARDI, FEDERICO;CAGLI, CARLO;IELMINI, DANIELE
2009-01-01
2009
International Memory Workshop, 2009
9781424437610
sezele
04.1 Contributo in Atti di convegno
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