Monitoring manufacturing systems using AI: A method based on a digital factory twin to train CNNs on synthetic data
Marcello Urgo;Walter Terkaj;Gabriele Simonetti
2024-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.