RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

TCAD Modeling of Germanium Behavior During Forming Operation in Ge-Rich ePCM

Baldo, M.;Pavesi, C.;Ielmini, D.;Redaelli, A.
2023-01-01
2023
2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
978-4-86348-803-8
04.1 Contributo in Atti di convegno
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