TCAD Modeling of Germanium Behavior During Forming Operation in Ge-Rich ePCM

Baldo, M.;Pavesi, C.;Ielmini, D.;Redaelli, A.
2023-01-01

2023
2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
978-4-86348-803-8
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