Depassivation of Traps in the Polysilicon Channel of 3D NAND Flash Arrays: Impact on Cell High-Temperature Data Retention

Mattia Giulianini;Gerardo Malavena;Alessandro S. Spinelli;Christian Monzio Compagnoni
2023-01-01

2023
Proc. IEEE - International Reliability Physics Symposium (IRPS)
978-1-6654-5672-2
sezele
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