Characterization and modeling of temperature effects in 3-D NAND Flash arrays - Part I: Polysilicon-induced variability
Davide Resnati;Aurelio Mannara;Gianluca Nicosia;Alessandro S. Spinelli;Andrea L. Lacaita;Christian Monzio Compagnoni
2018-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
ted18_2.pdf
Accesso riservato
Descrizione: ted18_2
:
Publisher’s version
Dimensione
3.83 MB
Formato
Adobe PDF
|
3.83 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
