Impact of Temperature on the Amplitude of RTN Fluctuations in 3-D NAND Flash Cells

G. Nicosia;A. Mannara;D. Resnati;A. L. Lacaita;A. Sottocornola Spinelli;C. Monzio Compagnoni
2017

IEDM Tech. Dig.
978-1-5386-3559-9
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