Charge carrier dynamics at doped silicon surface by ultrafast scanning electron microscopy
SALA, VITTORIO;PIETRALUNGA, SILVIA MARIA;ZANI, MAURIZIO;IRDE, GABRIELE;MANZONI, CRISTIAN;ISELLA, GIOVANNI;CERULLO, GIULIO NICOLA;LANZANI, GUGLIELMO;TAGLIAFERRI, ALBERTO
2017-01-01
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