Reliability of NAND Flash memories: planar cells and emerging issues in 3D devices

SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;MONZIO COMPAGNONI, CHRISTIAN;LACAITA, ANDREA LEONARDO
2017-01-01

2017
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
17comp-spinelli.pdf

accesso aperto

Descrizione: articolo principale
: Publisher’s version
Dimensione 5.59 MB
Formato Adobe PDF
5.59 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/1017579
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 67
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 60
social impact