KHURSHEED, ANJAM
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 332
AS - Asia 124
NA - Nord America 71
SA - Sud America 16
AF - Africa 5
Totale 548
Nazione #
DE - Germania 145
IT - Italia 122
US - Stati Uniti d'America 67
CN - Cina 39
SG - Singapore 32
HK - Hong Kong 17
BR - Brasile 14
CZ - Repubblica Ceca 11
FR - Francia 11
IN - India 10
NL - Olanda 9
FI - Finlandia 8
GB - Regno Unito 6
NP - Nepal 5
PK - Pakistan 5
RU - Federazione Russa 5
CA - Canada 4
CH - Svizzera 4
ES - Italia 4
ID - Indonesia 4
KR - Corea 4
AT - Austria 2
BJ - Benin 2
CI - Costa d'Avorio 2
IE - Irlanda 2
IR - Iran 2
RO - Romania 2
TW - Taiwan 2
AR - Argentina 1
BD - Bangladesh 1
BE - Belgio 1
EC - Ecuador 1
IQ - Iraq 1
JP - Giappone 1
MY - Malesia 1
NG - Nigeria 1
Totale 548
Città #
Tübingen 71
Milan 55
Singapore 23
Santa Clara 15
Hechingen 12
Hong Kong 8
Prague 8
Balingen 7
Chandler 7
Amsterdam 6
Boardman 6
Jülich 6
Pliezhausen 6
Rome 6
Bresso 5
Council Bluffs 5
Erlangen 5
Helsinki 5
Kochi 5
Ashburn 4
Jakarta 4
New York 4
Offenburg 4
Seoul 4
Shanghai 4
St Petersburg 4
Xi'an 4
Beijing 3
Berlin 3
Birmingham 3
Bolingbrook 3
Chengdu 3
Dresden 3
Düsseldorf 3
Islamabad 3
Lausanne 3
Leeds 3
Leipzig 3
Los Angeles 3
Nuremberg 3
Ottawa 3
Abidjan 2
Barbariga 2
Brooklyn 2
Broumy 2
Bucharest 2
Cotonou 2
Dublin 2
Florence 2
Freiburg im Breisgau 2
Guangzhou 2
Lauterbourg 2
Limbiate 2
Munich 2
Málaga 2
Ouro Preto 2
Padova 2
Pokhara 2
Rasht 2
Seregno 2
Sheffield 2
Siziano 2
Taipei 2
Vechelde 2
Albignasego 1
Ann Arbor 1
Belo Horizonte 1
Bengaluru 1
Bexley 1
Brno 1
Brussels 1
Carbonera 1
Catania 1
Columbus 1
Como 1
Delhi 1
Dhaka 1
Ede 1
Frankfurt am Main 1
Fremont 1
Groenlo 1
Guarulhos 1
Guipavas 1
Göttingen 1
Indaiatuba 1
Itapevi 1
Jaraguá do Sul 1
Karbala 1
Karlsruhe 1
Kathmandu 1
Kuala Lumpur 1
Lahore 1
Lappeenranta 1
Lawrence 1
Lumezzane 1
Madrid 1
Medford 1
Mendrisio 1
Modena 1
Montreal 1
Totale 417
Nome #
Perspectives of ultrafast hyperspectral imaging in Scanning Electron Microscopy 372
Linear and nonlinear optical properties of dewetted SiGe islands 76
The Design of a Reflection Electron Energy Loss Spectrometer Attachment for Low Voltage Scanning Electron Microscopy 48
Scanning electron microscopy 42
Graphene Cold Field-Emission Sources for Electron Microscopy Applications 18
Totale 556
Categoria #
all - tutte 1.545
article - articoli 646
book - libri 60
conference - conferenze 744
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 95
Totale 3.090


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/20223 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 1
2022/202319 1 2 0 1 4 1 1 2 1 3 0 3
2023/2024226 0 1 27 49 18 21 15 14 17 24 19 21
2024/2025308 32 19 29 18 30 21 27 23 41 22 38 8
Totale 556