Variability and cycling endurance in nanoscale resistive switching memory

IELMINI, DANIELE;BALATTI, SIMONE;AMBROGIO, STEFANO
2015-01-01

2015
Proceedings of the 15th IEEE International Conference on Nanotechnology July 27-30, 2015, Rome, Italy
978-1-4673-8156-7
978-1-4673-8156-7
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