RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Topological risk mapping of runway overruns: A probabilistic approach

TRUCCO, PAOLO;
2015-01-01
2015
Monte Carlo methods; Overruns; Risk analysis (RA); Runway excursions; Topological risk mapping; Industrial and Manufacturing Engineering; Safety, Risk, Reliability and Quality; Applied Mathematics
01.1 Articolo in Rivista
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