Stress-induced asymmetric switching and filament instability in electrochemical memories

IELMINI, DANIELE;AMBROGIO, STEFANO;BALATTI, SIMONE
2014-01-01

2014
SEMICONDUCTORS, DIELECTRICS, AND METALS FOR NANOELECTRONICS 12 (ECS Transactions)
978-1-62332-188-8
Engineering (all)
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