Statistical modeling of program and read variability in resistive switching devices

AMBROGIO, STEFANO;BALATTI, SIMONE;IELMINI, DANIELE
2014-01-01

2014
Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems
9781479934324
9781479934324
memory; Nonvolatile memory; random telegraph noise; resistive-switching memory (RRAM); statistical modeling; Electrical and Electronic Engineering
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