RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Voltage-dependent random telegraph noise (RTN) in HfOx resistive RAM

BALATTI, SIMONE;AMBROGIO, STEFANO;IELMINI, DANIELE
2014-01-01
2014
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
9781479933167
9781479933167
current fluctuation; random telegraph noise; Resistive switching memory (RRAM); Engineering (all)
04.1 Contributo in Atti di convegno
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