Impact of low-frequency noise on read distributions of resistive switching memory (RRAM)

AMBROGIO, STEFANO;BALATTI, SIMONE;IELMINI, DANIELE
2014

Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM
978-1-4799-8001-7
978-1-4799-8001-7
Electrical and Electronic Engineering; Condensed Matter Physics; Electronic, Optical and Magnetic Materials; Materials Chemistry2506 Metals and Alloys
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