CMOS Impedance Analyzer for Nanosamples Investigation Operating up to 150 MHz With Sub-aF Resolution

BIANCHI, DAVIDE;FERRARI, GIORGIO;ROTTIGNI, ANGELO;SAMPIETRO, MARCO
2014-01-01

2014
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
06879492.pdf

Accesso riservato

Descrizione: Final article
: Publisher’s version
Dimensione 1.86 MB
Formato Adobe PDF
1.86 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri
JSSC_submitted_11311-964623_FERRARI.pdf

accesso aperto

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 1.93 MB
Formato Adobe PDF
1.93 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/964623
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 23
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 24
social impact