Role of interface and bulk defect-states in the low-voltage leakage conduction of ultrathin oxides

IELMINI, DANIELE;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2000-01-01

2000
Solid-State Device Research Conference, 2000. Proceeding of the 30th European
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
essderc00.PDF

Accesso riservato

: Altro materiale allegato
Dimensione 85.25 kB
Formato Adobe PDF
85.25 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/559000
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact