Role of interface and bulk defect-states in the low-voltage leakage conduction of ultrathin oxides
IELMINI, DANIELE;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2000-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
essderc00.PDF
Accesso riservato
:
Altro materiale allegato
Dimensione
85.25 kB
Formato
Adobe PDF
|
85.25 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
