RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Explaining the dependences of the hole and electron mobilities in Si inversion layers

PIROVANO, AGOSTINO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2000-01-01
2000
sezele
01.1 Articolo in Rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/558590
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 47
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 44
social impact