Impact ionization and stress-induced leakage current in thin gate oxides
IELMINI, DANIELE;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2000-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
ulis00.pdf
Accesso riservato
:
Altro materiale allegato
Dimensione
346.96 kB
Formato
Adobe PDF
|
346.96 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
