A new two-trap tunneling model for the anomalous stress-induced leakage current (SILC) in Flash memories

IELMINI, DANIELE;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2001-01-01

2001
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
ielmini-me01.pdf

Accesso riservato

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 297.55 kB
Formato Adobe PDF
297.55 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/557868
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 37
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 32
social impact