NiO as a test case for high resolution resonant inelastic soft x-ray scattering
GHIRINGHELLI, GIACOMO CLAUDIO;DALLERA, CLAUDIA;FRACASSI, FRANCESCA LUCIANA;PIAZZALUNGA, ANDREA;TAGLIAFERRI, ALBERTO;BRAICOVICH, LUCIO
2005-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
