NiO as a test case for high resolution resonant inelastic soft x-ray scattering

GHIRINGHELLI, GIACOMO CLAUDIO;DALLERA, CLAUDIA;FRACASSI, FRANCESCA LUCIANA;PIAZZALUNGA, ANDREA;TAGLIAFERRI, ALBERTO;BRAICOVICH, LUCIO
2005-01-01

2005
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/555049
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 71
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 66
social impact