RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

"Physical interpretation, modeling and impact on phase change memory (PCM) reliability of resistance drift due to chalcogenide structural relaxation"

IELMINI, DANIELE;LAVIZZARI, SIMONE;LACAITA, ANDREA LEONARDO
2007-01-01
2007
IEEE International Devices Meeting, IEDM
sezele
04.1 Contributo in Atti di convegno
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