Threshold ionization mass spectrometry in the presence of excited silane radicals

MOISEEV, TAMARA;CHRASTINA, DANIEL;ISELLA, GIOVANNI;CAVALLOTTI, CARLO ALESSANDRO
2009-01-01

2009
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/517849
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 9
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 8
social impact