Statistical modeling of reliability and scaling projections for Flash memories

IELMINI, DANIELE;SOTTOCORNOLA SPINELLI, ALESSANDRO;LACAITA, ANDREA LEONARDO;
2001-01-01

2001
Electron Devices Meeting, 2001. IEDM '01. Technical Digest. International
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
iedm01.PDF

Accesso riservato

: Altro materiale allegato
Dimensione 105.44 kB
Formato Adobe PDF
105.44 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/271693
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 42
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact