RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

20 nm-Resolved Stress Profile in SiGe Nano-Stripes Obtained by Tip-Enhanced Raman Spectroscopy

BOLLANI, MONICA;TAGLIAFERRI, ALBERTO;
2015-01-01
2015
Handbook on enhanced spectroscopies
978-981-4613-32-3
978-981-4613-33-0
02.1 Contributo in Volume
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