BEJANI, MEHDI
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 26
NA - Nord America 18
EU - Europa 16
OC - Oceania 1
Totale 61
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 18
IT - Italia 13
CN - Cina 11
JP - Giappone 6
KR - Corea 3
MY - Malesia 3
NL - Olanda 2
AU - Australia 1
HK - Hong Kong 1
SE - Svezia 1
SG - Singapore 1
VN - Vietnam 1
Totale 61
Città #
Milan 11
Tokyo 6
San Jose 4
Atlanta 3
Council Bluffs 3
Kuala Lumpur 3
Seoul 3
Rome 2
Amsterdam 1
Anna 1
Boardman 1
El Paso 1
Hamilton 1
Hangzhou 1
Hawthorne 1
Philadelphia 1
Pittsburgh 1
Shanghai 1
Stockholm 1
Sydney 1
Wuhan 1
Zhuhai 1
Totale 49
Nome #
AI-Assisted Framework for Real-Time Monitoring and Management of Probe Cards in Electrical Wafer Sort Applications 27
Self-Attention-Based Deep Learning for Missing Sensor Data Imputation in Real-Time Probe Card Monitoring 24
Digital Twin-Assisted Optimal Sensor Placement for Real-Time Monitoring of Probe Cards in EWS Applications 13
Totale 64
Categoria #
all - tutte 169
article - articoli 65
book - libri 0
conference - conferenze 104
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 338


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2025/202664 0 0 0 0 0 0 0 0 33 18 6 7
Totale 64