VICENTINI FERREIRA DO VALLE, TIAGO
VICENTINI FERREIRA DO VALLE, TIAGO
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA CIVILE E AMBIENTALE
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Titolo | Data di pubblicazione | Autori | File |
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MEMS Reliability: On-Chip Testing for the Characterization of the Out-of-Plane Polysilicon Strength | 1-gen-2023 | Vicentini Ferreira do Valle, TiagoMariani, StefanoGhisi, AldoDe Masi, BiagioGattere, Gabriele + |