VICENTINI FERREIRA DO VALLE, TIAGO
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 96
AS - Asia 92
NA - Nord America 77
SA - Sud America 10
AF - Africa 5
OC - Oceania 1
Totale 281
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 74
RU - Federazione Russa 45
SG - Singapore 34
CN - Cina 24
IT - Italia 23
NL - Olanda 9
BR - Brasile 8
VN - Vietnam 8
KR - Corea 6
HK - Hong Kong 5
JP - Giappone 4
BE - Belgio 3
ES - Italia 3
MX - Messico 3
BD - Bangladesh 2
CI - Costa d'Avorio 2
DE - Germania 2
PL - Polonia 2
TW - Taiwan 2
AL - Albania 1
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
BJ - Benin 1
CH - Svizzera 1
EC - Ecuador 1
FR - Francia 1
GB - Regno Unito 1
ID - Indonesia 1
IE - Irlanda 1
IN - India 1
IQ - Iraq 1
LK - Sri Lanka 1
MA - Marocco 1
MY - Malesia 1
NO - Norvegia 1
PK - Pakistan 1
PT - Portogallo 1
SE - Svezia 1
TN - Tunisia 1
UA - Ucraina 1
UZ - Uzbekistan 1
Totale 281
Città #
Ashburn 23
Singapore 21
Milan 12
San Jose 12
Hefei 8
Moscow 6
Seoul 6
Amsterdam 4
Tokyo 4
Brussels 3
Ho Chi Minh City 3
Melzo 3
Málaga 3
Santa Clara 3
Abidjan 2
Boardman 2
Cusano Milanino 2
Delft 2
Hanoi 2
Hong Kong 2
Kent 2
Piscataway 2
Taipei 2
The Dalles 2
Warsaw 2
Americana 1
Aracaju 1
Atlanta 1
Belo Horizonte 1
Bern 1
Buenos Aires 1
Buffalo 1
Cantù 1
Casablanca 1
Clinton 1
Columbus 1
Contagem 1
Cotonou 1
Council Bluffs 1
Dallas 1
Dayton 1
Dublin 1
Frankfurt am Main 1
Hillah 1
Houston 1
Hải Dương 1
Itapipoca 1
Jacareí 1
Jackson 1
Jakarta 1
Ksar Hellal 1
Kuala Lumpur 1
Las Vegas 1
Lauterbourg 1
Lisbon 1
London 1
Los Angeles 1
Mairiporã 1
Mexico City 1
Motozintla 1
North Charleston 1
Nuremberg 1
Panadura 1
Parras de la Fuente 1
Pune 1
Quito 1
Quảng Ninh 1
Rawalpindi 1
Redondo Beach 1
Rosamond 1
Salt Lake City 1
Sayreville 1
Sesto San Giovanni 1
Shanghai 1
Simferopol 1
Southfield 1
Stockholm 1
Sydney 1
Tashkent 1
Thái Nguyên 1
Tirana 1
Turin 1
Vidal Ramos 1
Washington 1
Wuhan 1
Xi'an 1
Totale 194
Nome #
MEMS Reliability: On-Chip Testing for the Characterization of the Out-of-Plane Polysilicon Strength 181
Characterization of Polysilicon Strength through On-Chip Testing at MEMS Stoppers 104
Totale 285
Categoria #
all - tutte 879
article - articoli 562
book - libri 0
conference - conferenze 317
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.758


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2022/202313 0 0 0 0 0 0 0 0 0 8 4 1
2023/202422 0 0 3 3 0 1 5 0 5 2 0 3
2024/202557 2 3 1 3 8 11 0 6 5 4 9 5
2025/2026193 48 32 8 16 14 10 24 9 16 16 0 0
Totale 285