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Charge dynamics in aluminum oxide thin film studied by ultrafast scanning electron microscopy
2018-01-01 Zani, Maurizio; Sala, Vittorio; Irde, Gabriele; Pietralunga, SILVIA MARIA; Manzoni, Cristian; Cerullo, GIULIO NICOLA FELICE; Lanzani, Guglielmo; Tagliaferri, Alberto
Composition determination of semiconductor alloys towards atomic accuracy by HAADF-STEM
2019-01-01 Duschek, L.; Kukelhan, P.; Beyer, A.; Firoozabadi, S.; Oelerich, J. O.; Fuchs, C.; Stolz, W.; Ballabio, A.; Isella, G.; Volz, K.
Microwave TM010 cavities as versatile 4D electron optical elements
2013-01-01 Pasmans, P. L. E. M; van den Ham, G. B.; DAL CONTE, Stefano; van der Geer, S. B.; Luiten, O. J.
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