RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Accelerated retention test method by controlling ion migration barrier of resistive random access memory

AMBROGIO, STEFANO;IELMINI, DANIELE;
2015-01-01
2015
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
accelerated test; memories; memory fault diagnosis; memory testing; ReRAM; retention; Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
01.1 Articolo in Rivista
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