17.4 CMOS impedance analyzer for nanosamples investigation operating up to 150MHz with Sub-aF resolution

FERRARI, GIORGIO;BIANCHI, DAVIDE;ROTTIGNI, ANGELO;SAMPIETRO, MARCO
2014

Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference
9781479909186
9781479909186
Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
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