Modeling resistance instabilities of set and reset states in phase change memory with Ge-rich GeSbTe

CIOCCHINI, NICOLA;IELMINI, DANIELE
2014-01-01

2014
Embedded memory; phase change memory (PCM); reliability modeling; set drift; soldering.; Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
ted_embedded.pdf

accesso aperto

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 587.21 kB
Formato Adobe PDF
587.21 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/964761
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 41
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 36
social impact