RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Modeling resistance instabilities of set and reset states in phase change memory with Ge-rich GeSbTe

CIOCCHINI, NICOLA;IELMINI, DANIELE
2014-01-01
2014
Embedded memory; phase change memory (PCM); reliability modeling; set drift; soldering.; Electrical and Electronic Engineering; Electronic, Optical and Magnetic Materials
01.1 Articolo in Rivista
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