RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Reset-induced variability of retention characteristics in phase change memory (PCM)

RIZZI, MAURIZIO;CIOCCHINI, NICOLA;LACAITA, ANDREA LEONARDO;IELMINI, DANIELE
2014-01-01
2014
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
9781479933167
9781479933167
array statistics; crystallization; Monte-Carlo modelling; non-volatile memory; PCM; Phase change memory; reliability; retention; Engineering (all)
04.1 Contributo in Atti di convegno
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