Characterization of a Novel Yb:YLF Laser for Optical Frequency Metrology, 2008 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

PESATORI, ALESSANDRO;NORGIA, MICHELE;SVELTO, CESARE;COLUCCELLI, NICOLA;G. Galzerano;LAPORTA, PAOLO
2008

2008 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
9781424415403
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