Assessing Micromechanical Sensor Characteristics via Optical and Electrical Metrology
LANGFELDER, GIACOMO;TOCCHIO, ALESSANDRO;
2010-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
proceeding_07_IEEESens2010_Assessing_microelectromechanical.pdf
Accesso riservato
:
Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione
1.7 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.7 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.